[项目介绍]
本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。
[测试参考标准]
IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等
[设备参数]
设备型号：CJ602S3 Ⅰ
试验温度范围：-75℃～200℃
高温设定范围：+60℃～+200℃
低温设定范围：0℃～-75℃
温变速率：≤5Min
内箱尺寸：670×650×460mm
电子产品冷热冲击测试
 产品分类
站内搜索 友情链接
|
电子产品冷热冲击测试
详细信息 温度冲击试验
[项目介绍] 本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。 [测试参考标准] IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等 [设备参数] 设备型号：CJ602S3 Ⅰ 试验温度范围：-75℃～200℃ 高温设定范围：+60℃～+200℃ 低温设定范围：0℃～-75℃ 温变速率：≤5Min 内箱尺寸：670×650×460mm
共0条 相关评论 |